2009-12-26から1日間の記事一覧

信頼性と不良とジレンマ

前のエントリーで「過剰技術と工程削減の難しさ」を書きましたが、 半導体デバイスの信頼性や不良とそのジレンマについて書いておきます。 ちなみに、湯之上さんのセミコンポータルの以下の記事で https://www.semiconportal.com/archive/blog/insiders/yuno…